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• Norma Técnica DIN 50451-5

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 5: Guideline for the selection of materials and testing of their suitability for apparatus for sampling and sample preparation for the determination of trace elements in the range of micrograms per kilogram and nanograms per kilogram
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50451-6

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 6: Determination of 36 elements in a high-purity ammonium fluoride solution (NHF) and in etching mixtures of high-purity ammonium fluoride solution containing hydrofluoric acid
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50451-7

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 7: Determination of 31 elements in high-purity hydrochloric acid by ICP-MS
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50451-8

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 8: Determination of 33 elements in high-purity sulfuric acid by ICP-MS
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50452-1

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 1: Microscopic determination of particles
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50452-2

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 2: Determination of particles by optical particle counters
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50452-3

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 3: Calibration of optical particle counters
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50453-1

  Título: Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50453-2

  Título: Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium-dioxid coating; optical method
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50453-3

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 3: Aluminium, gravimetric method
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50454-1

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of dislocations in monocrystals of III-V-compound semi-conductors - Part 1: Gallium arsenide
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50454-2

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the dislocation etch pits density in monocrystals of III-V-compound semiconductors - Part 2: Indium phosphide
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50454-3

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the dislocation etch pits density in monocrystals of III-V-compound semiconductors - Part 3: Gallium phosphide
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50455-1

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50455-2

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50456-1

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Method for the characterisation of moulding compounds for electronic components - Determination of the thermo-mechanical dilatation of epoxy resin moulding compounds
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50456-2

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Method for the characterisation of moulding compounds for electronic components - Part 2: Determination of ionic impurities using pressure cooker test
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50456-3

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Method for the characterisation of moulding compounds for electronic components - Part 3: Determination of cationic impurities
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50457-1

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the volume fraction of components in dopant gas mixtures by wet-chemical methods - Part 1: Diborane in hydrogen diborane mixtures
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50457-2

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the volume fraction of components in dopant gas mixtures by wet-chemical methods - Part 2: Phosphine in nitrogen phosphine mixtures
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 5046

  Título: Hooks for meat and other foods; S-hook
  Entidade: DIN
  Assunto: Plantas (instalações) e Artigos (equipamentos) para a indústria alimentícia

• Norma Técnica DIN 50460

  Título: Determination of magnetic properties of soft magnetic materials; general, terminology and principles of measurement
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais magnéticos

• Norma Técnica DIN 50462-1

  Título: Testing of steel; method for determination of magnetic properties of electrical sheet and strip in the 25 cm Epstein frame; general
  Entidade: DIN
  Assunto: Aços com propriedades magnéticas específicas

• Norma Técnica DIN 50462-2

  Título: Testing of steel; method for determination of magnetic properties of electrical sheet and strip in the 25 cm Epstein frame; determination of the total loss
  Entidade: DIN
  Assunto: Aços com propriedades magnéticas específicas

• Norma Técnica DIN 50462-3

  Título: Testing of steel; method for determination of magnetic properties of electrical sheet and strip in the 25 cm Epstein frame; determination of magnetic polarisation and magnetic flux density in an alternating magnetic field
  Entidade: DIN
  Assunto: Aços com propriedades magnéticas específicas

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