DIN - Página 660/2582

• Norma Técnica DIN 50441-5

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 5: Terms of shape and flatness deviation
  Entidade: DIN
  Assunto: Engenharia elétrica (Vocabulários)

• Norma Técnica DIN 50442-1

  Título: Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slices
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50443-1

  Título: Testing of materials for use in semiconductor technology; detection of crystal defects and inhomogeneities in silicon single crystals by X-ray topography
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50443-2

  Título: Testing of materials for semiconductor technology; recognition of defects and inhomogeneities in semiconductor single crystals by X-ray topography; III-V-semiconductor compounds
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50444

  Título: Testing of materials for semiconductor technology; conversion between resistivity and dopant density; silicon
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50445

  Título: Testing of materials for semiconductor technology; contactless determination of the electrical resistivity of semiconductor slices with the eddy current method; homogeneously doped semiconductor wafers
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50446

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of defect types and defect densities of silicon epitaxial layers
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50447

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical sheet resistance of semiconductor layers with the eddy-current method
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50448

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical resistivity of semi-insulating semi-conductor slices using a capacitive probe
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50449-1

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in semiconductors by infrared absorption - Part 1: Carbon in gallium arsenide
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50449-2

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in semiconductors by infrared absorption - Part 2: Boron in gallium arsenide
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 5045

  Título: Measuring device for DIN volumes - Guidelines
  Entidade: DIN
  Assunto: Eletroacústica

• Norma Técnica DIN 50450-1

  Título: Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cell
  Entidade: DIN
  Assunto: Gases para aplicações industriais

• Norma Técnica DIN 50450-2

  Título: Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of oxygen impurity in N, Ar, He, Ne and H by using a galvanic cell
  Entidade: DIN
  Assunto: Gases para aplicações industriais

• Norma Técnica DIN 50450-3

  Título: Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of methane impurity in H, O, N, Ar and He by using a flame ionization detector (FID)
  Entidade: DIN
  Assunto: Gases para aplicações industriais

• Norma Técnica DIN 50450-4

  Título: Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and dopant gases; determination of C-C-hydrocarbons in nitrogen by gas-chromatography
  Entidade: DIN
  Assunto: Gases para aplicações industriais

• Norma Técnica DIN 50450-5

  Título: Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and dopant gases; determination of water traces in gaseous hydrogen chloride by a diphosphorus pentoxide cell
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50450-6

  Título: Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of CO and CO in nitrogen by gaschromatographie
  Entidade: DIN
  Assunto: Gases para aplicações industriais

• Norma Técnica DIN 50450-7

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 7: Determination of CO and H in nitrogen by gaschromatography and reduction gasdetector
  Entidade: DIN
  Assunto: Gases para aplicações industriais

• Norma Técnica DIN 50450-8

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 8: Determination of the concentration of the particle number in flowing nitrogen using laser particle counter
  Entidade: DIN
  Assunto: Gases para aplicações industriais

• Norma Técnica DIN 50450-9

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C-C-hydrocarbons in gaseous hydrogen chloride by gaschromatography
  Entidade: DIN
  Assunto: Gases para aplicações industriais

• Norma Técnica DIN 50451-1

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 1: Silver (Ag), gold (Au), calcium (Ca), copper (Cu), iron (Fe), potassium (K) and sodium (Na) in nitric acid by AAS
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50451-2

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 2: Calcium (Ca), cobalt (Co), chromium (Cr), copper (Cu), Iron (Fe), nickel (Ni) and zinc (Zn) in hydrofluoric acid with plasma-induced emission spectroscopy
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50451-3

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica DIN 50451-4

  Título: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS)
  Entidade: DIN
  Assunto: Materiais semicondutores

• 655
• 656
• 657
• 658
• 659
• 660
• 661
• 662
• 663
• 664
• 665

---

PESQUISA

Código da norma

Buscar