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AFNOR - Página 1088/2476
Norma Técnica NF EN 60749-28
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-29
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29 : latch-up test
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-3
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3 : external visual examination
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-30
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30 : preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-31
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31 : flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-32
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32 : flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-33
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33 : accelerated moisture resistance - unbiased autoclave
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-34
Título:
Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-35
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35 : acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-36
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36 : acceleration steady state
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-37
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37 : board level drop test method using an accelerometer
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-38
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 : soft error test method for semiconductor devices with memory
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-39
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39 : measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-4
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp Heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-40
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 : board level drop test method using a strain gauge
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-42
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42 : temperature humidity storage
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-43
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43 : guidelines for IC reliability qualification plans
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-44
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44 : neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-5
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5 : steady-state temperature humidity bias life test
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-6
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6 : storage at high temperature
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-7
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7 : internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-8
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8 : sealing
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-9
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9 : permanence of marking
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 6075
Título:
Aerospace series - Static seal elements O-Ring ethylene-propylene, moulded, phosphate ester resistant (-55 oC to 107 oC) - Inch series
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Sistemas aeroespaciais de fluido e seus componentes
Norma Técnica NF EN 60751
Título:
Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Instrumentos para medida de temperatura
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