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AFNOR - Página 1087/2476
Norma Técnica NF EN 60747-5-2
Título:
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-2 : optoelectronic devices - Essential ratings and characteristics
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Optoeletrônica. Equipamento a laser
Norma Técnica NF EN 60747-5-3
Título:
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3 : optoelectronic devices - Measuring methods
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Optoeletrônica. Equipamento a laser
Norma Técnica NF EN 60747-5-5
Título:
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5 : optoelectronic devices - Photocouplers
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Optoeletrônica. Equipamento a laser
Norma Técnica NF EN 60749
Título:
Semicoductor devices - Mechanical and climatic test methods
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-1
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1 : general
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-10
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10 : mechanical shock
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-11
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11 : rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-12
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12 : vibration, variable frequency
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-13
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13 : salt atmosphere
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-14
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14 : robustness of terminations (lead integrity)
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-15
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15 : resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-16
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16 : particle impact noise dectection (PIND)
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-17
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17 : neutron irradiation
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-18
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18 : ionizing radiation (total dose)
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-19
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19 : die shear strength
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-2
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2 : low air pressure
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-20
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20 : resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-20-1
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1 : handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-21
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21 : solderability
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-22
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22 : bond strength
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-23
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23 : high temperature operating life
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-24
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24 : accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-25
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25 : temperature cycling
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-26
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica NF EN 60749-27
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27 : electrostatic discharge (ESD) sensivity testing - Machine model (MM)
Entidade:
AFNOR
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
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