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• Norma Técnica JIS K 0145

  Título: Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectrometers - Calibration of energy scales
  Entidade: JSA
  Assunto: Instrumentos óticos de medição

• Norma Técnica JIS K 0146

  Título: Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0147

  Título: Surface chemical analysis - Vocabulary
  Entidade: JSA
  Assunto: Tecnologia química (Vocabulários)

• Norma Técnica JIS K 0147-1

  Título: Surface chemical analysis - Vocabulary - Part 1: General terms and terms used in spectroscopy
  Entidade: JSA
  Assunto: Tecnologia química (Vocabulários)

• Norma Técnica JIS K 0147-2

  Título: Surface chemical analysis - Vocabulary - Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy
  Entidade: JSA
  Assunto: Tecnologia química (Vocabulários)

• Norma Técnica JIS K 0148

  Título: Surface chemical analysis - Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0149-1

  Título: Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification
  Entidade: JSA
  Assunto: Equipamento ótico

• Norma Técnica JIS K 0150

  Título: Surface chemical analysis - Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0151

  Título: Non-dispersive infrared gas analyzer
  Entidade: JSA
  Assunto: Métodos de análise fisico-químicos

• Norma Técnica JIS K 0152

  Título: Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Repeatability and constancy of intensity scale
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0153

  Título: Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
  Entidade: JSA
  Assunto: Métodos de análise fisico-químicos

• Norma Técnica JIS K 0154

  Título: Surface chemical analysis - Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0155

  Título: Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Linearity of intensity scale in single ion counting time-flight mass analysers
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0156

  Título: Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0157

  Título: Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0158

  Título: Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0159

  Título: Surface chemical analysis - Scanning-probe microscopy - Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0160

  Título: Surface chemical analysis - Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
  Entidade: JSA
  Assunto: Métodos de análise fisico-químicos

• Norma Técnica JIS K 0161

  Título: Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Description of selected instrumental performance parameters
  Entidade: JSA
  Assunto: Métodos de análise fisico-químicos

• Norma Técnica JIS K 0162

  Título: Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Description of selected instrumental performance parameters
  Entidade: JSA
  Assunto: Métodos de análise fisico-químicos

• Norma Técnica JIS K 0163

  Título: Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0164

  Título: Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth profiling of boron in silicon
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0165

  Título: Surface chemical analysis - Medium-resolution Auger electron spectrometers - Calibration of energy scales for elemental analysis
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0166

  Título: Surface chemical analysis - High-resolution Auger electron spectrometers - Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

• Norma Técnica JIS K 0167

  Título: Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
  Entidade: JSA
  Assunto: Análise química

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