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JSA - Página 329/684
Norma Técnica JIS H 0521
Título:
Methods for weathering test of aluminium and aluminium alloys
Entidade:
JSA
Assunto:
Alumínio e ligas de alumínio
Norma Técnica JIS H 0522
Título:
Methods of radiographic test and classification by radiographs of aluminium castings
Entidade:
JSA
Assunto:
Produtos de alumínio
Norma Técnica JIS H 0523
Título:
Testing method of molten aluminium alloy cleanliness for die castings
Entidade:
JSA
Assunto:
Alumínio e ligas de alumínio
Norma Técnica JIS H 0530
Título:
Measurement methods of polarization resistance of copper alloy tubes for condenser
Entidade:
JSA
Assunto:
Turbinas a gás e vapor. Máquinas a vapor
Norma Técnica JIS H 0541
Título:
Method of alkaline salt corrosion testing for magnesium and magnesium alloys
Entidade:
JSA
Assunto:
Corrosão de metais
Norma Técnica JIS H 0542
Título:
Methods for determining average grain size of magnesium alloy sheets
Entidade:
JSA
Assunto:
Magnésio e ligas de magnésio
Norma Técnica JIS H 0543
Título:
Testing method of determining bendability for magnesium alloy sheets
Entidade:
JSA
Assunto:
Magnésio e ligas de magnésio
Norma Técnica JIS H 0544
Título:
Magnesium alloys - Flammability test method
Entidade:
JSA
Assunto:
Magnésio e ligas de magnésio
Norma Técnica JIS H 0601
Título:
Testing methods of resistivity for germanium
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0602
Título:
Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0603
Título:
Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0604
Título:
Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0607
Título:
Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0608
Título:
Estimation of boron content in silicon
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0609
Título:
Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0610
Título:
Method of measurement of etch pit density of germanium crystal
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0611
Título:
Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0612
Título:
Testing methods of resistivity for single crystal silicon wafers with four point probe
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0613
Título:
Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0614
Título:
Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
Entidade:
JSA
Assunto:
Materiais semicondutores
Norma Técnica JIS H 0615
Título:
Test method for determination of impurity concentrations in silicon crystal by photoluminescence spectroscopy
Entidade:
JSA
Assunto:
Minerais não metálicos
Norma Técnica JIS H 1012
Título:
General rules for chemical analysis of copper and copper alloys
Entidade:
JSA
Assunto:
Cobre e ligas de cobre
Norma Técnica JIS H 1051
Título:
Copper and copper alloys - Determination of copper content
Entidade:
JSA
Assunto:
Cobre e ligas de cobre
Norma Técnica JIS H 1052
Título:
Methods for determination of tin in copper and copper alloys
Entidade:
JSA
Assunto:
Cobre e ligas de cobre
Norma Técnica JIS H 1053
Título:
Methods for determination of lead in copper and copper alloys
Entidade:
JSA
Assunto:
Cobre e ligas de cobre
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