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• Norma Técnica IEC 60749-19

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength test
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-2

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-20

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-20-1

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-21

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-22

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-23

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-24

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-25

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-26

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-27

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-28

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-29

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-3

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-30

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-31

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-32

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-33

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-34

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-35

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-36

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-37

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-38

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

• Norma Técnica IEC 60749-39

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
  Entidade: IEC
  Assunto: Estruturas mecânicas para equipamento eletrônico

• Norma Técnica IEC 60749-4

  Título: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
  Entidade: IEC
  Assunto: Dispositivos semicondutores em geral

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