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CEN CENELEC - Página 892/1255
Norma Técnica EN IEC 60747-16-6
Título:
Semiconductor devices - Part 16-6: Microwave integrated circuits - Frequency multipliers (IEC 60747-16-6:2019)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Outros dispositivos semicondutores
Norma Técnica EN IEC 60747-17
Título:
Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation (IEC 60747-17:2020)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60747-5-5
Título:
Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers (IEC 60747-5-5:2020)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-10
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly (IEC 60749-10:2022)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-12
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency (IEC 60749-12:2017)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-13
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2018)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-15
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2020)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-17
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2019)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-18
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2019)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-20
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20:2020)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-26
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2018)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-28
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 60749-28:2022)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-30
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2020)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-39
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components (IEC 60749-39:2021)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60749-41
Título:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (IEC 60749-41:2020)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Dispositivos semicondutores em geral
Norma Técnica EN IEC 60751
Título:
Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors (IEC 60751:2022)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Instrumentos para medida de temperatura
Norma Técnica EN IEC 60754-3
Título:
Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 3: Measurement of low level of halogen content by ion chromatography (IEC 60754-3:2018)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Comportamento ao fogo e inflamabilidade de materiais e produtos
Norma Técnica EN IEC 60757
Título:
Code for designation of colours (IEC 60757:2021)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Codificação de cores
Norma Técnica EN IEC 60773
Título:
Rotating electrical machines - Test methods and apparatus for the measurement of the operational characteristics of brushes (IEC 60773:2021)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Componentes para máquinas rotativas
Norma Técnica EN IEC 60779
Título:
Installations for electroheating and electromagnetic processing - Test methods for electroslag remelting furnaces (IEC 60779:2020)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Fornos elétricos
Norma Técnica EN IEC 60793-1-1
Título:
Optical fibres - Part 1-1: Measurement methods and test procedures - General and guidance (IEC 60793-1-1:2022)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Fibras e cabos
Norma Técnica EN IEC 60793-1-31
Título:
Optical fibres - Part 1-31: Measurement methods and test procedures - Tensile strength (IEC 60793-1-31:2019)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Fibras e cabos
Norma Técnica EN IEC 60793-1-32
Título:
Optical fibres - Part 1-32: Measurement methods and test procedures - Coating strippability (IEC 60793-1-32:2018)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Fibras e cabos
Norma Técnica EN IEC 60793-1-34
Título:
Optical fibres - Part 1-34: Measurement methods and test procedures - Fibre curl (IEC 60793-1-34:2021)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Fibras e cabos
Norma Técnica EN IEC 60793-1-40
Título:
Optical fibres - Part 1-40: Attenuation measurement methods (IEC 60793-1-40:2019)
Entidade:
CEN CENELEC
Assunto:
Fibras e cabos
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