AFNOR - Página 1175/2476

• Norma Técnica NF EN 62040-5-3

  Título: Uninterruptible power systems (UPS) - Part 5-3 : DC output UPS - Performance and test requirements
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Retificadores. Conversores. Sistemas de alimentação estabilizada

• Norma Técnica NF EN 62041

  Título: Safety of transformers, reactors, power supply units and combinations thereof - EMC requirements
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Transformadores. Bobinas

• Norma Técnica NF EN 62044-1

  Título: Cores made of soft magnetic materials - Measuring methods - Part 1 : generic specification
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Componentes magnéticos

• Norma Técnica NF EN 62044-2

  Título: Cores made of soft magnetic materials - Measuring methods - Part 2 : magnetic properties at low excitation level
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Componentes magnéticos

• Norma Técnica NF EN 62044-3

  Título: Cores made of soft magnetic materials - Measuring methods - Part 3 : magnetic properties at high excitation level
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Componentes magnéticos

• Norma Técnica NF EN 62047-1

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 1 : terms and definitions
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Eletrônica (Vocabulários)

• Norma Técnica NF EN 62047-10

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10 : micro-pillar compression test for MEMS materials
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Outros dispositivos semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-11

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11 : test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-12

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12 : bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Outros dispositivos semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-13

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13 : bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strenght for MEMS structures
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Outros dispositivos semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-14

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14 : forming limit measuring method of metallic film materials
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Outros dispositivos semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-15

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15 : test method of bonding strength between PDMS and glass
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Outros dispositivos semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-16

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16 : test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Outros dispositivos semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-17

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17 : bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Outros dispositivos semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-18

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18 : bend testing methods of thin film materials
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-19

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19 : electronic compasses
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Outros dispositivos semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-2

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2 : tensile testing methods of thin film materials
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-20

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 20 : gyroscopes
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Outros dispositivos semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-21

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21 : test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Outros dispositivos semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-22

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22 : electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-25

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25 : silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-26

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26 : description and measurement methods for micro trench and needle structures
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-3

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3 : thin film standard test piece for tensile testing
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-4

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4 : generic specifications for MEMS
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Materiais semicondutores

• Norma Técnica NF EN 62047-5

  Título: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5 : RF MEMS switches
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Outros dispositivos semicondutores

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