AFNOR - Página 327/2476

• Norma Técnica NF C86-252

  Título: Harmonized system of quality assessment for electronic components. Mos ultra-violet light erasable electrically programmable read only memories silicon monolithic circuits blank detail specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-253

  Título: Harmonized system of quality assessment for electronic components. Mos read/write dynamic memories silicon monolithic circuits. Blank detail specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-254

  Título: Harmonized system of quality assessment for electronic components. Mos read/write static memories silicon monolithic circuits. Blank detail specification
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-255

  Título: Harmonized system of quality assessment for electronic components programmable logic arrays (pla). Blank detail specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-410

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Film and hybrid integrated circuits. Generic specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-411

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Film and hybrid integrated circuits. Sectional specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-412

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Film and hybrid integrated circuits. Blank detail specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-413

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Film hybrid integrated circuits. Capability approval. Sectional specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-414

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Film and hybrid integrated circuits. Capability approval. Blank detail specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-430

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Fixed film resistors networks. Generic specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-431

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Fixed film resistors networks. Sectional specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-432

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Film resistors networks. Blank detail specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-433

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Film resistors networks (approval procedures). Sectional specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-434

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Film resistors networks (approval procedures).
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Circuitos integrados. Microeletrônica

• Norma Técnica NF C86-500

  Título: Harmonized system of quality assessment for electronic components. Generic specification. Semiconductor optoelectronic and liquid crystal devices.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Dispositivos eletrônicos de visualização

• Norma Técnica NF C86-501

  Título: Harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Light emitting diodes, light emitting diode arrays.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Optoeletrônica. Equipamento a laser

• Norma Técnica NF C86-502

  Título: Harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Infrared emitting diodes, infrared emitting diodes arrays.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Optoeletrônica. Equipamento a laser

• Norma Técnica NF C86-503

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Phototransistors, photodarlington transistors and phototrasistor-arrays. Blank detail specification CECC 20 003.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Optoeletrônica. Equipamento a laser

• Norma Técnica NF C86-504

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Ambient rated photocouplers with phototransistor output. Blank detail specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Optoeletrônica. Equipamento a laser

• Norma Técnica NF C86-505

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Photodiodes. Photodiodes-arrays. Blank detail specification CECC 20 005.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Optoeletrônica. Equipamento a laser

• Norma Técnica NF C86-506

  Título: Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components pin-photodiodes for fibre optic applications. Blank detail specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Optoeletrônica. Equipamento a laser

• Norma Técnica NF C86-507

  Título: Harmonized system of quality assessment for electronic components. Liquid crystal displays. Monochrome lcds without electronic circuit. Blank detail specification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Dispositivos eletrônicos de visualização

• Norma Técnica NF C86-612

  Título: Harmonised system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification : ambient-rated bipolar transistors for amplification.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Transístores

• Norma Técnica NF C86-613

  Título: Harmonised system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification : case-rated bipolar transistors for low frequency application.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Transístores

• Norma Técnica NF C86-614

  Título: Harmonised system fo quality assessment for electronic components. Blank detail specification : bipolar transistors for switching applications.
  Entidade: AFNOR
  Assunto: Transístores

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